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YX-150ITOJ微分干涉顯微鏡

YX-150ITOJ微分干涉顯微鏡

產品詳情

應用范圍:

ITO鍍膜金線、加保護膜金線、油墨印刷部分金線、TFT-LIPS-COF導電離子、氣泡、彩暈、壓接偏移量、CALL段TFT線路、膠印等等。

 

儀器特點:

  • 無限遠光學系統,長工作距離平場復消色差物鏡,穩定可靠的架臺,精確的調焦機構。

  • 采用LED用軸光源和LED透射光源照明(可以更換為鹵素燈源)。

  • 偏光系統檢偏鏡可調轉動100度便于偏光正交觀察,DIC棱鏡插板機構采用可調節的方式可得到最佳的微分干涉效果。

  • 大視野單目觀察,減少很多中間細節,使成像更清晰效果更好,配置高清德國映美精攝像機能快速鋪抓高質量的清晰圖像。

  • YX-150ITOJ顯微鏡穩定性可靠,操作方便,成像清晰,廣泛應用于半導體、電子工業。對晶體、集成電路的檢驗和科學研究,可配置模擬攝像頭對所觀察的樣品進行;拍照、儲存、測量、分析。

     

     

部件用途:

  • 明場觀察:使用亮度的同軸照明,對晶體、集成電路的檢驗、精密制造業的裝配、零件檢測和品質控制。

  • 透射觀察:采用亮度可調的透射照明,可觀察透明樣品,油漆對液晶顯示屏的檢測效果更好,能清楚的看到發光屏的三色模塊,因此能檢測顯示屏的好壞,可判斷其質量。

  • 偏關觀察:系統內裝置偏光機構,起偏鏡固定在照明系統里再插入DIC棱鏡裝置(渥拉斯頓棱鏡)。(DIC)作為一種極具前途的分析檢驗方法,具有對金相樣品的制備要求較低,所觀察到的樣品各組成之間的相對層次關系突出,呈現顯得浮雕狀。對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷,能夠統一判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結構細節或缺陷,可進行彩色金相攝影燈有點。但在目前的金相檢驗工作中,(DIC)法還利用得很少。特別是對液晶顯示屏導電板的檢測效果更好,能夠清楚的觀察到導電板基板上的導電粒子,使用DIC技術,可以使物體表面微小的高低差展現出清晰,輪廓突出,帶立體感的浮雕成像,極大的提高圖像的對比度。

 

 

 

規格配置:

  • 無限遠光系統:f=200mm

  • 電子放大倍數:50X、100X(選購)、200X(選購)、500X(選購)

  • 長工作距離:5~45mm

  • 手動調焦范圍:60mm

  • 工作臺:260mmX220mm/玻璃:170mmX150mm

  • 移動范圍:X:±75mm、Y:±75mm

  • 照明系統:垂直照明、透射

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